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Santec基于OFDR技術(shù)光器件鏈路分析儀
材料來(lái)源:LFWC           錄入時(shí)間:2023/8/8 9:55:25

Santec 最新推出的的基于光頻域反射(OFDR)技術(shù)的光器件鏈路分析儀SPA-100,采樣分辨率高達(dá)5um,得益于Santec高精度、160nm寬波長(zhǎng)調(diào)諧范圍的激光器。5um高采樣分辨率能力,可以幫助研發(fā)人員分析各種精密光子系統(tǒng)的空間分布和故障,縮短研發(fā)時(shí)間。

典型的應(yīng)用場(chǎng)景

1. 硅光子器件事件分析

硅光子器件一般是會(huì)包含硅光芯片和其他芯片的混合集成器件,這樣的混合器件中,光鏈路中總會(huì)有一些事件點(diǎn),可能會(huì)造成光學(xué)性能的的差異。如何精確得知這些故障點(diǎn)以及性能呢?SPA-100可以幫助到你。

2. 光學(xué)鏈路分析

在一些較長(zhǎng)的光學(xué)傳感鏈路中,也會(huì)有不同的事件點(diǎn),如何精確得知具體哪一個(gè)事件出現(xiàn)故障或者性能的劣化,就需要OFDR的分析儀來(lái)進(jìn)行監(jiān)測(cè), 通常這種鏈路中,OTDR的分辨率是不能滿足測(cè)試要求的。

3.芯片耦合過(guò)程中距離監(jiān)測(cè)

光探針在逐漸靠近硅光芯片或者晶圓進(jìn)行耦合的過(guò)程中,可能會(huì)因?yàn)榻佑|而造成芯片或者晶圓的損傷,Santec 的OFDR 在探測(cè)性能的同時(shí)還提供額外的距離探測(cè)的功能,最大限度提高耦合效率并保護(hù)芯片和晶圓。

4 WDL 性能分析

SPA-100 提供2個(gè)測(cè)試端口一個(gè)端口用于OFDR分析,另一個(gè)端口可以同時(shí)掃描得到透射光譜,分析各種波長(zhǎng)相關(guān)性測(cè)試指標(biāo)。160nm的波長(zhǎng)范圍,高達(dá)70dB的動(dòng)態(tài)范圍。

得益于Santec 高精度、160nm寬波長(zhǎng)調(diào)諧范圍的激光器,Santec 的OFDR 分析儀可以達(dá)到業(yè)內(nèi)領(lǐng)先水平,能夠更好的助力高精度硅光子器件的研發(fā)過(guò)程。

同時(shí),Santec 的OFDR 儀表設(shè)計(jì)充分考慮了客戶的投資,光器件鏈路分析儀SPA-100可以配合客戶現(xiàn)有的Santec 可調(diào)諧激光器(TSL-770,TSL-570,TSL-710,TSL-550)完成上述各種場(chǎng)景的測(cè)試。

官網(wǎng):https://www.santec.com.cn/

咨詢電話:021-58361261


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