低雜散光設(shè)計(jì)和深致冷（-25℃）背照式CCD檢測(cè)器，使其即使在長(zhǎng)積分時(shí)間下，依然能夠獲得優(yōu)異的信噪比，成為弱信號(hào)特別是拉曼光譜檢測(cè)的最理想選擇。無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室還是在線應(yīng)用，Exemplar Pro都能為您提供無(wú)與倫比的性能體驗(yàn)。Exemplar®Pro標(biāo)準(zhǔn)配置：波長(zhǎng)范圍750-1100nm，25um狹縫，光譜分辨率0.6nm。

Exemplar® Pro

特點(diǎn)：

• 高紫外可見近紅外光譜響應(yīng)
• TE致冷，最低可致冷至比室溫低50℃（默認(rèn)-25℃）
• 峰值量子效率大于90%，200nm處量子效率大于60%
• 超低雜散光，<0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm
• 光譜范圍190-1100nm，最小光譜分辨率0.1nm
• 超低噪聲，30min積分時(shí)間信噪比可達(dá)540:1

 

Exemplar®Plus LS采用低雜散非交叉光路設(shè)計(jì)和高靈敏TE致冷背照式CCD陣列檢測(cè)器，是理想的高性能光譜測(cè)量產(chǎn)品。得益于寬動(dòng)態(tài)范圍和低雜散光，使其更加適合透過與吸光度檢測(cè)。高靈敏度和優(yōu)異的信噪比使其更加適合弱光信號(hào)的測(cè)量，是熒光光譜和拉曼光譜應(yīng)用的最佳選擇。

Exemplar® Plus LS

特點(diǎn)：

• 高紫外可見近紅外光譜響應(yīng)
• TE致冷，最低可致冷至比室溫低25℃
• 峰值量子效率大于90%，200nm處量子效率大于60%
• 超低雜散光，<0.02% @ 400 nm
• 光譜范圍180-1100nm，最小光譜分辨率0.1nm
• 最佳信噪比可至4800:1

 

應(yīng)用：

• 吸收/透射光譜分析
• 熒光光譜/拉曼光譜應(yīng)用
• 在線過程監(jiān)控
• 生物醫(yī)學(xué)/農(nóng)業(yè)食品
• 大氣水質(zhì)分析
• 弱光信號(hào)光譜檢測(cè)

關(guān)于B&W TEK

 

必達(dá)泰克光電科技（上海）有限公司，直屬于美國(guó)必達(dá)泰克公司，是一家世界領(lǐng)先的美國(guó)高科技儀器公司，主要產(chǎn)品包括光譜儀、激光器以及實(shí)驗(yàn)室、便攜式和手持式全系列小型拉曼光譜儀。公司成立于1997年，總部坐落于美國(guó)特拉華州，在漢堡，東京，倫敦和上海都設(shè)有子公司，客戶遍布全球。在小型拉曼光譜儀領(lǐng)域，B&W Tek擁有最豐富的經(jīng)驗(yàn)，最強(qiáng)大的自主研發(fā)和垂直資源整合能力，創(chuàng)造了比同行業(yè)任何公司都多的科技前沿產(chǎn)品、高性價(jià)比優(yōu)異產(chǎn)品和全方位應(yīng)用解決方案