Exemplar®Pro具有的高靈敏度與長(zhǎng)積分時(shí)間優(yōu)異的信噪比的特性使其成為了同等級(jí)中性能最高的微型光譜儀。其超高的性能可以大大提高吸光度、反射率、熒光與拉曼檢測(cè)的精確度。
低雜散光設(shè)計(jì)和深致冷(-25℃)背照式CCD檢測(cè)器,使其即使在長(zhǎng)積分時(shí)間下,依然能夠獲得優(yōu)異的信噪比,成為弱信號(hào)特別是拉曼光譜檢測(cè)的最理想選擇。無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室還是在線應(yīng)用,Exemplar Pro都能為您提供無(wú)與倫比的性能體驗(yàn)。Exemplar®Pro標(biāo)準(zhǔn)配置:波長(zhǎng)范圍750-1100nm,25um狹縫,光譜分辨率0.6nm。
Exemplar® Pro
特點(diǎn):
Exemplar®Plus LS采用低雜散非交叉光路設(shè)計(jì)和高靈敏TE致冷背照式CCD陣列檢測(cè)器,是理想的高性能光譜測(cè)量產(chǎn)品。得益于寬動(dòng)態(tài)范圍和低雜散光,使其更加適合透過與吸光度檢測(cè)。高靈敏度和優(yōu)異的信噪比使其更加適合弱光信號(hào)的測(cè)量,是熒光光譜和拉曼光譜應(yīng)用的最佳選擇。
Exemplar® Plus LS
特點(diǎn):
應(yīng)用:
關(guān)于B&W TEK
必達(dá)泰克光電科技(上海)有限公司,直屬于美國(guó)必達(dá)泰克公司,是一家世界領(lǐng)先的美國(guó)高科技儀器公司,主要產(chǎn)品包括光譜儀、激光器以及實(shí)驗(yàn)室、便攜式和手持式全系列小型拉曼光譜儀。公司成立于1997年,總部坐落于美國(guó)特拉華州,在漢堡,東京,倫敦和上海都設(shè)有子公司,客戶遍布全球。在小型拉曼光譜儀領(lǐng)域,B&W Tek擁有最豐富的經(jīng)驗(yàn),最強(qiáng)大的自主研發(fā)和垂直資源整合能力,創(chuàng)造了比同行業(yè)任何公司都多的科技前沿產(chǎn)品、高性價(jià)比優(yōu)異產(chǎn)品和全方位應(yīng)用解決方案
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